該項國際標準明確了Micro-LED陣列光電參數的標準化測量條件和測量方法，將解決長期以來Micro-LED光電參數測試方法不統(tǒng)一的行業(yè)痛點。該標準將為Micro-LED顯示器件的生產制造、檢驗檢測及國際貿易交流提供統(tǒng)一的技術依據，對于確保Micro-LED產品的品質與性能一致性具有關鍵支撐作用。

    近年來，Micro-LED因其高亮度、低功耗、自發(fā)光等優(yōu)勢受到廣泛關注，有望成為新一代主流顯示技術。在Micro-LED制程中，混bin（參數分選）工藝對品質管控至關重要，其本質是通過光電參數測試，對不同波長、亮度的LED精準分級以匹配應用需求。這是實現Micro-LED光學參數一致性調控的關鍵環(huán)節(jié)，將直接影響顯示的均一性與良率提升。而隨著Micro-LED芯片的微縮化，傳統(tǒng)的測試方案難以滿足需求。

    面對這一行業(yè)挑戰(zhàn)，辰顯光電通過創(chuàng)新性地采用選擇性巨量轉移技術制備電驅動的Micro-LED測試陣列，實現了快速、批量測試Micro-LED的亮度長/短程均勻性、色度均勻性等關鍵光電參數。這相當于建立了一個高效且精確的“數據庫”，極大地便利了混bin工序對不同特性LED的精準分類與匹配，從而有效解決了Micro-LED光學均一性不足等問題，為生產高性能Micro-LED顯示屏奠定了標準基礎。

    產業(yè)發(fā)展，標準先行。近年來，中、日、韓紛紛開啟Micro-LED產業(yè)和標準布局，搶占國際標準話語權勢在必行。此外，工業(yè)和信息化部等印發(fā)的《電子信息制造業(yè)2023-2024年穩(wěn)增長行動方案》中明確指出推動微發(fā)光二極管顯示器件（Micro-LED）等擴大應用。國家標準化管理委員會等四部門印發(fā)的《新產業(yè)標準化領航工程實施方案（2023—2035年）》中也明確提出，全面推進新興產業(yè)標準體系建設，在未來顯示中強調研制Micro-LED顯示等關鍵技術標準。

    除辰顯光電外，中國電子技術標準化研究院等研究機構和多家產業(yè)上下游企業(yè)共同參與了標準制定。此項國際標準將推動Micro-LED顯示技術的標準化、規(guī)范化進程，提升我國在半導體顯示器件領域的話語權和國際影響力。