目前,面陣CCD攝像機(jī)多為工業(yè)與保安監(jiān)控用機(jī),而對(duì)其成像的幾何性能和量測(cè)精度都知之甚少。在利用面陣CCD攝像機(jī)進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測(cè)的系統(tǒng)中,CCD攝像機(jī)所產(chǎn)生的誤差是系統(tǒng)中的主要誤差。而這種誤差是在圖像輸入的過(guò)程中產(chǎn)生的,它影響系統(tǒng)的測(cè)量精度,因而是不可忽視的。所以很有必要對(duì)CCD攝像機(jī)所產(chǎn)生的誤差進(jìn)行分析與檢校,以便對(duì)系統(tǒng)的精度進(jìn)行評(píng)價(jià)。
CCD攝像機(jī)所產(chǎn)生的誤差主要由它的光學(xué)成像鏡頭,CCD器件本身的質(zhì)量以及圖像采集裝置(含圖像采集卡等)共同產(chǎn)生。一般分為光學(xué)誤差、機(jī)械誤差和電學(xué)誤差。
光學(xué)誤差主要是指影響影像幾何精度的CCD攝像機(jī)的光學(xué)鏡頭所產(chǎn)生的鏡頭畸變差。它包括徑向畸變差和切向畸變差(鏡頭的這種誤差早在六、七十年代就已作過(guò)深入的研究,由于CCD攝像機(jī)鏡頭與普通照相機(jī)鏡頭沒什么差別,故其研究結(jié)果可以直接引用)。鏡頭的這種畸變差在影像上一般表現(xiàn)為中心小而周邊較大。
機(jī)械誤差主要是指CCD器件質(zhì)量不好,即CCD機(jī)械加工安裝時(shí)造成的CCD面陣的幾何誤差。也就是說(shuō)象元排列不規(guī)則而使影像產(chǎn)生的幾何誤差,它包括象素定位不準(zhǔn),行列不直及相互不垂直等誤差。此外還有CCD不同的象元對(duì)相同的光強(qiáng)信號(hào)轉(zhuǎn)換得到的灰度值有差異的象元敏感不均勻性誤差。隨著現(xiàn)代加工工藝水平的提高,這種誤差較其它誤差要小的多。因而一般不予考慮。
電學(xué)誤差主要是指CCD在光電信號(hào)轉(zhuǎn)換,電荷在勢(shì)阱中的傳遞以及A/D轉(zhuǎn)換時(shí)所產(chǎn)生的影像幾何誤差。它主要包括行同步誤差、場(chǎng)同步誤差和象素采樣誤差。主要原因是光電信號(hào)轉(zhuǎn)換不完全、信號(hào)傳遞后滯以及CCD驅(qū)動(dòng)電路電壓及頻率不穩(wěn)等因素造成。
下面分別介紹CCD攝像機(jī)所產(chǎn)生的光學(xué)誤差、電學(xué)誤差及其誤差檢測(cè)與分析。
一、CCD攝像機(jī)的光學(xué)誤差
CCD攝像機(jī)的光學(xué)誤差即CCD攝像機(jī)鏡頭的畸變差。由于CCD攝像機(jī)的物鏡與普通攝影物鏡無(wú)異,而這部分誤差早在六、七十年代就已作過(guò)相當(dāng)細(xì)致而深入的研究,其結(jié)果可直接應(yīng)用。
對(duì)畸變差的改正,可采用二次多項(xiàng)式擬合法。畸變差中的線性部分可用二維DLT(直接線性變換)算法改正。下面主要討論非線性誤差的改正。
一般非線性的物鏡畸變差可表示如下:
式中:x,y是象點(diǎn)的坐標(biāo)儀坐標(biāo);
x0,y0是像主點(diǎn)在坐標(biāo)儀坐標(biāo)系中的坐標(biāo);
k1,k2,k3…是待定的對(duì)稱物鏡畸變系數(shù);
p1,,p2是待定的非對(duì)稱物鏡畸變系數(shù);
r是向徑,
如果考慮物鏡畸變差非線性部分,只要把△x,△y代入二維DLT基本關(guān)系式即可。這里取△x=k1(x-x0)2,△y=k1(y-y0)2。因此可得:
亦即是:
在有多余控制點(diǎn)的情況下,可以列出式的誤差方程和法方程式如下:
在解算出k1系數(shù)后,就可以對(duì)坐標(biāo)進(jìn)行改正,從而可以消除或減弱畸變的影響。
在上面求解k1系數(shù)的過(guò)程中,需要事先知道x0,y0的初值。初值的確定方法如下:用同一CCD攝像機(jī)對(duì)一平面攝像,讓CCD攝像機(jī)與平面近似平行。
先攝一張像片;保持?jǐn)z像機(jī)與平面位置不動(dòng),換不同的焦距的鏡頭再攝一張像。這時(shí)由于兩次攝像時(shí)其它條件均相同,只是焦距不同,因此圖中1、2、3、4點(diǎn)在兩幅影像上的成像情況可表示。用高精度點(diǎn)檢測(cè)算法分別檢測(cè)出1、2、3、4點(diǎn)在兩幅影像上的位置1ˊ,2ˊ,3ˊ,4ˊ和1″,2″,3″,4″。分別求出過(guò)點(diǎn)1′,1〞的直線L1,過(guò)點(diǎn)2′,2〞的直線L2,過(guò)點(diǎn)3′,3″的直線L3,過(guò)點(diǎn)4′,4″的直線L4的方程。再分別求直線L1和L2,L2和L3,L3和L4,L4和L1的交點(diǎn)Ⅰ,Ⅱ,Ⅲ,Ⅳ。理論上,如果沒有任何誤差,這四點(diǎn)應(yīng)該重合。因此求出這四點(diǎn)的坐標(biāo)平均值x0,y0,即可認(rèn)為是CCD攝像機(jī)的主點(diǎn)位置。
二、CCD攝像機(jī)的電學(xué)誤差
電學(xué)誤差即是指影像信號(hào)經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換時(shí)產(chǎn)生的影像幾何誤差(即CCD信號(hào)轉(zhuǎn)換中的誤差)。它主要包括行同步誤差,場(chǎng)同步誤差和象素采樣誤差。
上述電學(xué)誤差統(tǒng)稱為行抖動(dòng)誤差。這種行抖動(dòng)誤差不僅影響象素的幾何位置,同時(shí)也影響象素的灰度值,即表現(xiàn)為象點(diǎn)灰度的畸變及象點(diǎn)的移位。在此誤差的影響下,若目標(biāo)中一條理想的階躍邊緣,在CCD影像上即呈一種抖動(dòng)狀。說(shuō)的簡(jiǎn)單點(diǎn),具體表現(xiàn)在目標(biāo)中的一條直線在CCD影像上即呈非規(guī)則的抖動(dòng)狀。由此,只要檢測(cè)出直線的行抖動(dòng),即可考慮在擬合邊緣直線時(shí)校正,所以可提高系統(tǒng)的測(cè)量精度。
三、CCD攝像機(jī)的誤差檢測(cè)與校正
若使用較好的CCD器件質(zhì)量及攝像鏡頭,則主要是考慮CCD攝像機(jī)的電學(xué)誤差了。因此這里主要是分析討論電學(xué)誤差即行抖動(dòng)誤差的檢測(cè)與校正。
為了檢測(cè)出影像行抖動(dòng)誤差的大小,我們采用了以下的方法。
1、在目標(biāo)中放置兩根懸垂的黑色鋼尺,背景為白色,鋼尺邊緣可認(rèn)為是理想的階躍邊緣。我們采用邊緣檢測(cè)算法--采樣矩陣匹配法(SampleMomentMatch.簡(jiǎn)稱SMM法)進(jìn)行邊緣檢測(cè),可得較高的檢測(cè)精度。攝像時(shí)讓兩鋼尺基本位于影像的中部,相距較近。且鋼尺邊緣基本與影像行方面垂直,經(jīng)SMM法邊緣檢測(cè)后,利用SMM邊緣檢測(cè)算子,由各邊緣點(diǎn)分別擬合出兩條直線L1,L2,直線擬合后各邊緣點(diǎn)上的殘差,即可看作是行抖動(dòng)誤差。殘差統(tǒng)計(jì)結(jié)果列于表1:
線編號(hào)L1L2
最大誤差0.2510.250
殘差中誤差0.0790.078
表1(單位:象元)
線編號(hào)L3L4
最大誤差0.2450.165
殘差中誤差0.0730.070
表2(單位:象元)
2、還是用兩根鋼尺作為目標(biāo),與上述方法唯一不同之處是攝像時(shí)讓一鋼尺位于影像左邊緣,另一鋼尺位于影像中部。經(jīng)邊緣檢測(cè)和直線擬合(L3,L4)后,殘差的統(tǒng)計(jì)結(jié)果列于表2:
通過(guò)測(cè)試結(jié)果分析可知:
1、行抖動(dòng)誤差可以分為低頻和高頻兩部分。低頻部分主要是行同步誤差和鏡頭畸變差所致。高頻部分主要是場(chǎng)同步誤差所為,而象元采樣誤差則可認(rèn)為是隨機(jī)誤差。行同步誤差與場(chǎng)同步誤差分別作用于每一行上,但對(duì)行上各象元的影響比較一致。而象素采樣誤差對(duì)每個(gè)象元的影響是隨機(jī)的。采用多行檢測(cè)的邊緣點(diǎn)進(jìn)行平均,對(duì)其高頻噪聲有一定的抑制作用,因而采用橫跨多行的標(biāo)志代替僅占一行或少數(shù)行的特征點(diǎn)進(jìn)行定位,可以提高定位精度。
2、在整幅影象中,行抖動(dòng)誤差的大小并不是一致的,因此糾正只能在局部范圍內(nèi)進(jìn)行。而越到邊緣,行抖動(dòng)現(xiàn)象越明顯。如果只取奇數(shù)行或偶數(shù)行的邊緣點(diǎn)進(jìn)行直線擬合,再求殘差,可以發(fā)現(xiàn)行抖動(dòng)差的數(shù)值變小了,這是因?yàn)槠渲幸巡话▓?chǎng)同步誤差影響的緣故。
總之,行抖動(dòng)誤差是比較復(fù)雜的,只能在局部范圍內(nèi)進(jìn)行糾正。影像邊緣的行抖動(dòng)誤差大于影像中間的行抖動(dòng)誤差。檢測(cè)結(jié)果表明,行抖動(dòng)誤差在0.2~0.3個(gè)象元之間。此外,在檢測(cè)過(guò)程中,盡量采用橫跨多行的標(biāo)志代替僅占一行或少數(shù)行的特征點(diǎn)進(jìn)行定位,盡量讓目標(biāo)成象于影像中央,都有助于提高系統(tǒng)的量測(cè)精度。